Entwicklung einer Pincard mit speziellen Parametern zur Verwendung innerhalb eines VLSI-Testsystems, welches zur Messung von statischen und dynamischen Parametern von Integrierten Schaltungen auf dem Wafer und im Finaltest verwandt wird.
Eine Pincard stellt für IC’s, welche getestet werden Eingangsdaten (Strom und Spannung werden eingeprägt) bereit und bewertet (komperiert) Ausgangsdaten des IC's. Kritisch ist das Ein- und Ausschaltverhalten der Pincard, Anstiegszeiten, Abfallzeiten, Überschwingen, Taktrate ua.
Die Pincard wurde in das Testsystem so integriert, dass die Programmierung über das Betriebssystem des Testers unverändert bleiben konnte.